碳紙平面低電阻率測定儀標準（ASTM F84）及國標設計制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.碳紙平面低電阻率測定儀的電學性質。四探針電導率測量方法是通過在材料表面放置四個電極，其中兩個電極用于施加電壓，另外兩個電極用于測量電流，從而測量材料的電導率。四探針電導率測量方法的優點是可以減少電極接觸電阻對測量結果的影響，從而提高測量精度。此外，四探針電導率測量方法還可以用于測量高電導率材料，如金屬和導體。四探針電導率測量方法的原理是根據歐姆定律，電流與電壓之間的關系是線性的。當施加電壓時，電流通過材料，根據歐姆定律，電流與電壓之間的關系可以表示為I=V/R，其中I是電流，v是電壓。

四探針電導率測量方法的應用非常廣泛，例如在半導體材料研究中，可以用四探針電導率測量方法來研究半導體材料的電學性質。此外在材料工程中，四探針電導率測量方法也可以用于研究材料的導電性能，從而優化材料的性能。四探針電導率測量方法是一種非常重要的測量材料電學性質的方法它可以用于研究材料的電導率，從而為材料研究和工程應用提供重要的參考。