絕緣材料體積電阻試驗(yàn)儀符合標(biāo)準(zhǔn)：符合標(biāo)準(zhǔn)《ASTM D257-2007體積電阻率》、《GBT 1410-2006材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》。主要技術(shù)指標(biāo)：測(cè)量電壓：10V、25V、50V、100V、250V、500V、1000V絕緣材料體積電阻試驗(yàn)儀可在各種電氣、電子部件、電子設(shè)備的不同范圍內(nèi)使用的電阻率測(cè)試儀，七量程測(cè)試，輸出電壓可在1V分辨率下任意設(shè)置0~1500V，可以測(cè)試500Ω~1016 Ω的電阻，最大顯示99999數(shù)。可應(yīng)用于測(cè)量各種電子元件、設(shè)備、介質(zhì)材料和電線(xiàn)電纜等的絕緣電阻和漏電流；連接電極箱可測(cè)試材料的表面電阻和體積電阻率。符合GB／T31838.2.3.4：等同IEC62631-3-1-201；IEC62631-3-2-2015；IEC62631-3-3-2015，GB∕T1692-2008等標(biāo)準(zhǔn)要求。

將被測(cè)試樣用測(cè)量電纜線(xiàn)和導(dǎo)線(xiàn)分別與訊號(hào)輸入端和測(cè)試電壓輸出端連接。 將測(cè)試電壓選擇開(kāi)關(guān)置于所需要的測(cè)試電壓檔。 將“放電-測(cè)試"開(kāi)關(guān)置于“測(cè)試"檔，輸入短路開(kāi)關(guān)仍置于“短路"。對(duì)試樣經(jīng)一定時(shí)間的充電以后(視試樣的容量大小而定，一般為15秒。電容量大時(shí)，可適當(dāng)延長(zhǎng)充電時(shí)間)，即可將輸入短路開(kāi)關(guān)撳至“測(cè)量"進(jìn)行讀數(shù)，若發(fā)現(xiàn)指針很快打出滿(mǎn)刻度，應(yīng)立即撳輸入短路開(kāi)關(guān)，使其置于“短路"， 將“放電-測(cè)試"開(kāi)關(guān)置于“放電"檔，等查明原因并排除故障后再進(jìn)行測(cè)試。 當(dāng)輸入短路開(kāi)關(guān)置于測(cè)量后，如發(fā)現(xiàn)表頭無(wú)讀數(shù)，或指示很少，可將倍率開(kāi)關(guān)逐步升高，數(shù)字顯示依次為7、8、9、…直至讀數(shù)清晰為止(盡量取儀表上1～10的那段刻度)。通過(guò)旋轉(zhuǎn)倍率旋鈕，使示數(shù)處于半偏以?xún)?nèi)的位置，便于讀數(shù)。測(cè)量時(shí)先將RV/RS轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)置于RV測(cè)量體積電阻，然后置于RS測(cè)量表面電阻。讀數(shù)方法如下：表頭指示為讀數(shù)，數(shù)字顯示為10的指數(shù)，單位W。用不同電壓進(jìn)行測(cè)量時(shí)，其電阻系數(shù)不一樣，電阻系數(shù)標(biāo)在電壓值下方。將儀表上的讀數(shù)（單位為兆歐）乘以倍率開(kāi)關(guān)所指示的倍率及測(cè)試電壓開(kāi)關(guān)所指的系數(shù)（10V為0.01；100V為0.1；250V為0.25；500V為0.5；1000V為1）即為被測(cè)試樣的絕緣電阻值。例如：讀數(shù)為3.5′106W倍率開(kāi)關(guān)所指系數(shù)為108，測(cè)量電壓為100V，則被測(cè)電阻值為：3.5′106′108′0.1 =3.5′1013W。 在測(cè)試絕緣電阻時(shí)，如發(fā)現(xiàn)指針有不斷上升的現(xiàn)象，這是由于電介質(zhì)的吸收現(xiàn)象所致，若在很長(zhǎng)時(shí)間內(nèi)未能穩(wěn)定，則一般情況下取接通測(cè)試開(kāi)關(guān)后一分鐘時(shí)的讀數(shù)作為試樣的絕緣電阻值。一個(gè)試樣測(cè)試完畢，即將輸入短路撳鍵置于“短路"，測(cè)試電壓控制開(kāi)關(guān)置于“關(guān)"后，將方式選擇開(kāi)關(guān)撥向放電位置，幾分鐘后方可取出試樣。對(duì)電容量較大的試樣者需經(jīng)1分鐘左右的放電，方能取出試樣，以免受測(cè)試系統(tǒng)電容中殘余電荷的電擊。。若要重復(fù)測(cè)試時(shí)，應(yīng)將試樣上的殘留電荷全部放掉方能進(jìn)行。