產品列表
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半導電電阻測試儀儀器使用規程講解
點擊次數：795 發布時間：2024-03-12
半導電電阻測試儀是一種用于測量材料電阻特性的儀器，通常用于評估半導體材料的導電性能。儀器原理主要基于歐姆定律和四探針測量方法。通過四根金屬探針與半導體材料接觸來測量其電阻率。當一定壓力下探針與材料接觸時，在最外側的兩根探針（1和4）之間通入電流I，中間的兩根探針（2和3）用于測量產生的電位差V。根據這些數據，結合探針系數C（取決于探針間距和排列方式），可以計算出材料的電阻率。這一過程涉及到電流源的應用，即通過恒流源提供恒定電流，以及電壓測量，即通過測試電路捕獲電壓降。
1.安全檢查：在使用前，確保儀器電源線和接地線連接正確無誤，并且儀器沒有任何損壞或裸露的電線。
2.開機預熱：開啟儀器電源，給予一定的預熱時間，以便儀器穩定。
3.校準儀器：根據制造商的指導手冊進行校準，以確保測量結果的準確性。這可能包括短路校準和開路校準。
4.樣品準備：準備待測樣品，確保其表面清潔、無污染，且與測試探頭的良好接觸。
5.連接電路：將測試探頭與樣品接觸，并確保連接穩固，形成良好的電氣接觸。
6.參數設置：根據需要測量的電阻范圍，設置合適的測試參數，如測試電流、電壓范圍等。
7.進行測試：啟動測試程序，等待儀器完成測量并顯示結果。
8.記錄數據：記錄下測試結果，包括電阻值、測試日期和時間等。
9.清理樣品和探頭：測試結束后，清理樣品表面和探頭，避免殘留物影響后續測試的準確性。
10.關機保養：關閉儀器電源，并進行必要的清潔和維護工作，以延長儀器的使用壽命。
