電氣擊穿試樣承受電應(yīng)力作用時(shí)，其絕緣性能嚴(yán)重?fù)p失，由此引起的試驗(yàn)田路電流促使相應(yīng)的回路斷路器動(dòng)作。注：擊穿通常是由試中羊和電極周圍的氣體或液體媒質(zhì)中的局部放電引起，并使得較小電極（或等徑兩電極）邊緣的試樣遭到破壞閃絡(luò)試樣和電極周圍的氣體或液體媒質(zhì)承受電應(yīng)力作用時(shí)，其絕緣性能損失，由此引起的試驗(yàn)回路電流促使相應(yīng)的回路斷路器動(dòng)作。注：碳化通道的出現(xiàn)或穿透試樣的擊穿可用于區(qū)分試驗(yàn)是擊穿還是閃絡(luò)。